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3、 Agilent 8753E
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HP 8753E射频网络分析仪为满足研制实验室或生产制造的测试需求，在速度、性能和方便使用上提供了无与伦比的结合。8753E以其覆盖3或6GHz频率范围的集成化S参数测试装置、达110dB的动态范围以及频率扫描和功率扫描，为表征有源或无源网络、元器件和子系统的线性和非线性特性提供了圆满的解决方案。所使用的新型微处理器使测量和数据传递速率比以往的型号快达7倍之多。 网络分析仪的特点是有2个独立的测量通道，可同时测量和显示所有4个S参数。
可以选择用幅度、相位、群延迟、圆图、极坐标、驻波比或时域格式来显示反射和传输参数的任意组合。便于使用的专用功能键能迅速访问各个测量功能。可以利用达4个刻度格子在高分辩率的LCD彩色显示器上以重叠或分离屏面的形式来观察测量结果。为了驱动更大的外部监视器，以便于观察，增加了与VGA兼容的输出。
较好的通用性和性能 一个集成化的合成源提供了达10mW的输出功率（用选件011可达100mW），1Hz的频率分辩率和线性频率，对数频率，列表频率，CW和功率扫描功能。三个调谐接收机可以在6GHz（带有选件006频率扩展）处105dB或3GHz（标准）110dB的宽动态范围内进行独立的功率测量或同时比值测量。集成化的测试装置可以在不使用倍频器的情况下，测量达6GHz装置的传输和反射特性。
为了在非同轴系统中进行方便而的测量，特提供了TRL＊/LRM＊1校准。利用内置适配器移去校准技术，还能实现对非插入式器件的高精度测量。高稳定度的频率基准（选件1D5）提高了对高Q器件，如表面声波（SAW）器件、晶体谐振器或介质谐振滤波器的频率测量精度。为了提高配置的灵活性，选件011取消了内置测试装置，以便能选择自己所需的测试装置。
HP 8753E选件011可与HP85046A/B和85047A S参数测试装置以及供其它特殊应用的专用测试装置配套使用。用于自动生产的新型选件可以删除内部显示和降低仪器成本（选件1DT）。生产效率的提高 测试时序功能允许一次键入来迅速、反复执行复杂的任务。在时序工 作方式下，只需从面板测量一次，分析仪便能储存键入，以致无需额外编程。还可以利用测试时序经并行或HP-IB端口对外部装置进行控制。另一些生产率特点包括支持LIF和DOS格式的内置软盘驱动器、非易失存储器、串行和并行接口，DIN键盘接口以及对打印输出和文件提供时间记录的实时时钟。还包括极限测试、任意频率测试和标记跟踪功能。通过利用列表扫描工作方式来选择待测试的特殊频率以及在每个频率范围设置独立的中频带宽和功率电平，可以缩短测量时间。分段校准和内插误差修正能提高分析仪已校频率范围的某一区段上的矢量精度。非线性装置的测试 为了对器件进行更先进的表征，选件002增加了谐波测量功能。可以直接或以相对于基波的数显示放大器的扫描二次和总谐波电平。按动一个按钮，即可测量达－40的谐波。功率计校准向对输入或输出电平敏感的器件提供稳幅的功率。
HP 8753E自动对436A、437B、438A、EPM-441A或EPM-442A功率计进行控制，使在测试系统中任何处的功率都调到具有功率计的精度，或将网络分析仪接收机校准来进行的功率测量。为了测量混频器、调谐器和其它频率转换器件，频率偏置工作方式允许对网络分析仪独立于接收机调谐。分析仪很容易以固定中频或扫描中频测试方式完成变频损耗、相位、群延迟和混频器统调的测量。 时域分析 利用选件010，能观察在时域中的反射或传输响应。该分析仪对频域数据的快速傅氏逆变换进行计算，以显示反射系数或传输系数随时间变化的关系。两种时域分析方法能观察器件的阶跃响应或冲击响应。定时选通可用来除去一些不希望的响应，如接头失配，选通结果则可在时域或频率中显示。 1TRL＊和LRM＊是直通—反射—传输线和传输线—反射—匹配校准技术的三取样器执行方式。技术指标摘要 测试装置 集成化的S参数测试装置以50Ω（标准）或75Ω（选件075）提供完满的正向和反向测量。
